Iida, S, Murakami, T, Kurosawa, Y, Suzuri, Y, Fisher, GL, Miyayama, T. Time-of-flight secondary ion tandem mass spectrometry depth profiling of organic light-emitting diode devices for elucidating the degradation process. Rapid Commun Mass Spectrom. 2020; 34:e8640. https://doi.org/10.1002/rcm.8640

利用GCIB對(duì)新鮮的OLED樣品以及亮度衰減50%的OLED樣品進(jìn)行深度分析，TOF-SIMS在深度分析時(shí)可以同時(shí)得到質(zhì)譜圖、Mapping圖以及深度曲線圖，由質(zhì)譜圖可知，相比于新鮮的OLED樣品，降解后觀察到低質(zhì)量碳?xì)浠衔镫x子的增加，如[C3H5]+、[C4H7]+、[C5H9]+、和[C6H9]+（圖3（A））。此外，這些碳?xì)浠衔锼槠诜治鰠^(qū)域內(nèi)定位到幾微米大小的缺陷區(qū)域（圖3（B）），并貫穿整個(gè)剖面深度（圖3（C））。而且，無論是新鮮的OLED樣品以及亮度衰減50%的OLED樣品，在有幾層/ITO界面處都發(fā)現(xiàn)有較強(qiáng)的C5H9/C6H9，這些小的碳?xì)浞肿幼悠?，一部分來源于有機(jī)層的降解，另一部分來自于ITO層的表面污染。

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